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        正置金相显微镜 具有和倒置金相显微镜同样的基本功能，除了对20-30尘尘高度的金属试样作分析鉴定外，因为符合人的日常习惯，因此更广泛的应用于透明，半透明或不透明物质。正置金相显微镜在观察时成像为正像，这对使用者的观察与辨别带来了极大的方便。除了对20-30尘尘高度的金属试样作分析鉴定外，大于3微米小于20微米观察目标，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、尝颁顿基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。